为满足广**生电镜测试的需求，提高我校大型精密仪器设备使用效益，国资处与校分析测试中心拟对两台与日本电子株式会社共建电镜（JEM-2100透射电镜与JSM-7600F场发射扫描电镜）开放预约使用，并分批开展上机培训。目前第一批培训即将结束，现对相关开放细则通知如下：
1. 目前已参加相应电镜培训（含理论讲座和上机培训）的人员，可自带样品到电镜室排队进行上机考核。通过上机考核的人员，即取得实习上机资格，可在管理员的监督下操作相应电镜设备。
2. 上述两台电镜的机时采用网上预约与电镜室现场预约相结合的方式进行安排。已取得实习上机资格的人员可在北京化工大学贵重精密仪器共享预约系统（http://jmyq.buct.edu.cn/）中在线预约机时；其他人员，可于每周二、周五到综合楼电镜室预约排队，预约时请注明仪器型号（“JEM2100”或“JSM7600”）。
3. 为进一步充分利用仪器机时，拟在暑假期间的部分时段继续开放上述两台电镜的使用。暑假期间期间有测试需求的课题组，请尽早与综合楼电镜室洪老师联系，或将需求情况通过电子邮件发到 hongsong@mail.buct.edu.cn，邮件中请注明以下内容。每当样品累积到一定数量即开机进行测试。
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课题组： 样品数量：
送样人： 联系电话： 是否经过培训：
样品性质简介：
4．附件中是上述两台电镜的简介。除常规的高分辨 TEM和二次电子像 SEM测试外，上述电镜还有一些特色功能，欢迎有需要或有兴趣的课题组联系试用，优先安排机时。
联系人：洪老师 电话：64414973
电子邮件：hongsong@mail.buct.edu.cn
附件：北京化工大学分析测试中心-日本电子株式会社共建电镜简介
国资处
分析测试中心电镜室
2012-7-3
JEM-2100高分辨型透射电子显微镜
一、主要部件
JEM-2100主机，ORIUS SC1000型 CCD，牛津80mm2电制冷X射线能谱仪（EDS），双轴倾转样品杆
二、主要指标
电子枪： LaB6（六硼化镧）
点分辨率： 0.23 nm
线分辨率： 0.14 nm
加速电压： 80, 100, 120, 160, 200kV
束斑尺寸： 1.0-25 nm
放大倍数： 2000-1,500,000（高倍模式）；50-6,000（低倍模式）
CCD分辨率： 4008×2672 max.
倾斜角： ±35º
采用MS Windows为基本操作界面，操作直观简便。
三．特色功能
n 除高分辨TEM、电子衍射和能谱等基本功能外，该电镜还具备纳米束电子衍射（NBD）、汇聚束电子衍射（CBD）功能，入射束斑可控制在1 至 25 nm，适用于纳米晶体、多相合金、复合材料的衍射表征。
n 配备扫描透射电镜（STEM）模式，可采集STEM明场像和暗场像，并配合能谱实现微区元素分析和元素分布像（Mapping）。
JSM-7600F场发射扫描电子显微镜
一、主要部件
JSM-7600F场发射扫描电镜，二次电子检测器（SE）,背散射检测器（BSE），背散射电子衍射检测器（EBSD）
二、主要指标
电子枪： 热场发射
二次电子像分辨率： 1.5 nm（1 kV，GB 模式），1.0 nm（15 kV）
放大倍数： 25 到 1,000,000×
加速电压： 0.1 到 30 kV，附带减速模式
束流： 1 pA 到 200 nA（15 kV时）
数字图像： 5120×3840 max.
样品水平行程(X-Y)： 140 mm×80 mm
倾斜角度： -5 至 +70°
旋转角度： 360°
工作距离： 1.5 mm 到 25 mm
配备上方和低位SEI探测器、BSE检测测器，背散射电子衍射探头（EBSD）
内置光阑角控制镜
三．特色功能
n Gentle Beam模式（即“减速模式”）可将电子束损伤降低到最低程度，适用于不导电样品表征。
n 配备γ过滤器，能控制能量选择或二次电子及背散射电子像的图像混和率。
n 背散射检测器（BSE）信号可配合二次电子像生成混合运算图像，同时获取形貌图和元素衬度图。
n 背散射电子衍射检测器（EBSD）可用于晶体微区取向和晶体结构的分析。
上述特色功能欢迎有需要或有兴趣的课题组与分析测试中心电镜室联系试用。
联系人：洪老师；电话：64414973。电子邮件：hongsong@mail.buct.edu.cn